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讨论DDR4内存插槽连接器双接触点设计

2019-10-11 15:17:31 来源:连接器世界网 作者:深圳市兴万联电子有限公司 蔡友华 点击:1844

一般电脑开机时无法正常开机,然后把内存条拔出清理一下后(或者不清理),重新插入内存后再开机能正常开启,此现象业界称之为重组现象。发生重组现象的原因很多,如端子接触点氧化、内存条金手指氧化、端子正向力不足、使用环境恶劣……各工程师都在为解决此问题想方设法。

国外某公司申请了一件美国专利,其技术应用主要在DDR4内存插槽连接器上。该连接器端子设计特点是具有双接触点(如下图一16a , 17a),旨在通过双接触点以提供更可靠的接触连接。这种双触点的设计到底能否满足产品要求呢?那我们开始进行深入的讨论。

连接器

图一

从事电子连接器的技术人员都知道,在电子连接器基本的机械性能要求中,有两项参数分别叫做插入力与拔出力。由Robert S. Mroczkowski编写的《Electronic Connector Handbook》(《连接器手册》富士康有翻译本书)此书中,有详细的分析插入力的组成。如下图二,插入力由插入阶段与滑移阶段两部分组成。插入力计算公式如下:

Fi(Max)= 2Fn(Max) [(sinα+μcosα)/(cosα-μsinα)]

其中Fi = 插入力;Fn = 正向力;μ= 摩擦系数; α= 结合面夹角。可以看出,当μ为定值时,α越大插入力也越大;Fn越大插入力也越大。α、Fn是可以通过设计而调整的。阅读全文请点击以下链接

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