连接器退化机理之四
在上一篇文章中,我注意到磨损是一种间接退化机制。接触表面的磨损,如果它暴露了接触部分的底层金属,直接在接触界面引起腐蚀。这样的现象也适用于接触法向力。接触法向力损失也是一种间接退化机制,因为它增强了接触面在连接器使用寿命期间微动的可能性。正如前面所述,微动会导致微动腐蚀。在这两种情况下,接触法向力的损失可能导致微动的增加,因此,与腐蚀有关的退化和相应的接触电阻会增加。要理解可能导致接触力丧失的机制,需要了解接触力是如何产生的。
简单地说,接触法向力是由插座接触梁的挠度产生的,在连接器配合时,当插头触点插入腔体时。如图1所示,说明了一个简单的悬臂梁接触的挠度计算。许多连接器连接的悬臂梁或悬臂梁上的变化适用于图1的两个方程式。
C考虑第一个方程1,它显示了接触力与插座接触梁的几何形状和挠度之间的关系。
方程式 1: F = (1/4) E D w (t/l)3
在方程1中,F是接触力,E是插座接触的基材金属的弹性模量,D是插座接触的挠度,w、l和t是插座接触梁的宽度、长度和厚度。弹性模量是材料的一个参数,并随接触材料的变化而变化。在连接器用铜合金的典型应用范围内,弹性模量的变化相对较小,为16~19 mpsi。例如,考虑用于连接器的三种合金:黄铜(C 26000),磷青铜(C 51000)和铍铜(C 17200)。这些材料的弹性模量分别为16、16和18.5mpsi。挠度D是一个设计参数。接触梁的几何形状也是一个设计变量。对于给定的一组D,w,t,l,以及铜合金的有限弹性模量,大多数可根据方程1算出接触法向力。阅读全文请点击:https://image1.big-bit.com/2019/1104/20191104102857787.pdf
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