讨论DDR4内存插槽连接器双接触点设计
2019-10-11 15:17:31
来源：连接器世界网
作者：深圳市兴万联电子有限公司 蔡友华
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一般电脑开机时无法正常开机，然后把内存条拔出清理一下后(或者不清理)，重新插入内存后再开机能正常开启，此现象业界称之为重组现象。发生重组现象的原因很多，如端子接触点氧化、内存条金手指氧化、端子正向力不足、使用环境恶劣……各工程师都在为解决此问题想方设法。
国外某公司申请了一件美国专利，其技术应用主要在DDR4内存插槽连接器上。该连接器端子设计特点是具有双接触点(如下图一16a ， 17a)，旨在通过双接触点以提供更可靠的接触连接。这种双触点的设计到底能否满足产品要求呢？那我们开始进行深入的讨论。
图一
从事电子连接器的技术人员都知道，在电子连接器基本的机械性能要求中，有两项参数分别叫做插入力与拔出力。由Robert S. Mroczkowski编写的《Electronic Connector Handbook》(《连接器手册》富士康有翻译本书)此书中，有详细的分析插入力的组成。如下图二，插入力由插入阶段与滑移阶段两部分组成。插入力计算公式如下：
Fi(Max)= 2Fn(Max) [(sinα+μcosα)/(cosα-μsinα)]
其中Fi = 插入力；Fn = 正向力；μ= 摩擦系数； α= 结合面夹角。可以看出，当μ为定值时，α越大插入力也越大；Fn越大插入力也越大。α、Fn是可以通过设计而调整的。阅读全文请点击以下链接
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